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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Particleimpactnoisedetection(PIND)
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.粒子冲击噪音探测(PIND)
【标准号】:BSEN60749-16-2003
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2003-06-19
【实施或试行日期】:2003-06-19
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:机械试验;电子设备及元件;电学测量;气候;粒状物;环境试验;元部件;半导体器件;杂质;半导体;集成电路;电子工程;试验;电气工程;气候试验
【英文主题词】:Climate;Climatictests;Components;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Impurities;Impurity;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Noise;Noisemeasurements;Particulatematter;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing
【摘要】:ThepurposeofthispartofIEC60749istodetectthepresenceoflooseparticlesinsideacavitydevicesuchas,forexample,chipsofceramic,piecesofbondingwireorsolderballs(prills).Thetestofparticleimpactnoisedetectionisclassifiedasnon-destructive.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:17_140_20;31_080_01
【页数】:10P.;A4
【正文语种】:英语